Pentru navigare rapida, Alege o categorie de produse
aas.gifhplc.gificp_oes.gificp_tof.gifrheometer.gifuv.gifxrd.gifftir.gifgc_ms.gifoes.gifedxrf.gifaccc.gifaccs.gif
Difractometre XRD
Difractometrul de raze X eMMA

Noul Difractometru de raze X - eMMA(enhanced mini-materials analyzer) are o formă compactă şi o gamă largă de caracteristici dintre care cea mai importantă este Interschimbabilitatea razelor paralele şi geometria fasciculului pentru raze variate.

Designul original al aparatului oferă caracteristici cum ar fi i
nterschimbabilitatea geometriei cu raze paralele cu geometria fasciculului focalizat, rază de măsură variabilă, posibilitatea de a monta diverşi detectori, optică inteschimbabilă, o varietate mare de suporţi pentru variate probe.

De asemenea, eMMA oferă posibilitatea lucrului în modul Theta-Theta. Acest mod de lucru este necesar în cazul folosirii camerelor de probă condiţionate la temperaturi şi presiuni înalte.

Noul microprocesor oferă lucrul simultan cu 8 axe şi comunicaţie pe portul Ethernet. Aparatul are alocată o adresă IP de reţea şi poate fi controlat de orice PC conectat la Internet.

Fante de difracţie automate controlate de motoare pas cu pas, ceea ce permite operarea în modurile suprafaţă iradiată constantă sau fante cu deschidere constantă.

Suporţi pentru probe de diverse forme şi dimensiuni, suport probe rotativ (pentru determinare texturi), suport probe răcit prin efect Peltier.

Accesoriu XRF unic, cu care se pot realiza analize ale compoziţiei probei prin tehnica Dispersiei de energie în fluorescenţa de raze X. Această analiză vine ca o confirmare a identificării fazelor prin difracţia de raze X.

Noul software - include facilitatea recalibrării instantanee a aparatului în funcţie de accesoriul montat. De asemenea sunt incluse metode de calcul ale stressului rezidual, integrarea bazelor de date ICDD PDF-2 şi PDF-4+.

Avem o experienţă bogată în analizele efectuate asupra filmelor subţiri, analize de suprafaţă, reflectometrie folosind fascicul paralel şi fante subţiri de divergenţă. Rezultate spectaculoase se obţin folosind detectorul cu corp solid "Solid-State Peltier-cooled Si PIN Diode". Acest detector oferă o sensibilitate de 4 ori mai mare decît detectorul tradiţional cu Xe.

Vezi Accesorii pentru eMMA

APD 2000

apd2000.jpg Mare viteza de raspuns (1000°/min) si mare precizie de reproductibilitate (± 0,001°).
Usor de manipulat; dimensiunile compacte permit montarea verticala sau orizontala.
Generator de raze X ultrastabil cu procesor on-bord, controlat de PC prin portul serial.
Monocromator secundar, potrivit pentru radiatii Ag, Cr, Fe, Cu, Co si Mo.
Sistem de operare Windows 98/NT/2000/ Me.
Soft cristalografic inclus.
Acuratetea datelor, simplitatea in utilizare si marea versatilitate sunt cele mai importante caracteristici ale acestui sistem multifunctional.
Accesorii pentru APD 2000
detector.gif
Detector
monochromators.gif
Monocromator
holders.jpg
Suport de probe
thinfilm.jpg
Filme si texturi
htk.gif
Camera de inalta temperatura
ltk.gif
Camera de joasa temperatura
acstation.gif
Statie AC
kra.jpg
Sistem de racire cu apa


HRD 3000

hrd3000.jpg 
Module componente
tooloptical.jpg

xraytube.jpg

axaxyz.jpg

tubeshield.jpg

parallelmonoc.jpg

secondarymonoc.jpg

psd.jpg

cps120.jpg










Ultimele noutati

Bun venit

Cauta RomSpectra - aparatura de laborator

Cautari frecvente

Toate drepturile apartin ROMSPECTRA.
Romspectra Impex SRL: str. Maguricea, nr. 35, CP 53, OP 3, sector 1, Bucuresti, 021 232 35 37
Pagina este optimizata pentru o rezolutie de 1024 x 768.